简要说明：该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

产品用途

该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。

产品符合标准

设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5  GJB1217等标准的要求。

技术参数  

型号		WDCJ-162	WDCJ-340	WDCJ-500		WDCJ-010
工作室尺寸:mm		450×450×450	600×600×600	800×800×800		1000×1000×1000
样品区尺寸:mm		300×300×250	450×450×360	650×650×500		850×850×700
性 能 指 标	温度范围	A:-20℃～200℃ B:-40℃～200℃ C:-60℃～200℃
	温度波动	高温室及低温室均≤±2℃
	样品区温度波动	≤±0.5℃（恒温时）
	样品区承重	20kg		30kg	50kg
温度运行控制系统	控制器	日本进口UMC-1300真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器 韩国进口TEMI880真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器 （选其一）
	精度范围	设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃
	制冷系统	进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式
	循环系统	耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
温度转换时间		从低温区到高温区或从高温区到低温区≤5S
温度恢复时间		≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）
温度冲击方法		垂直两箱法 (两箱式冷热冲击试验箱 )
以上为标准型试验箱，可根据用户的具体要求定做非标型
本技术信息，如有变动恕不另行通知